| 概 要 |
各種材料をマクロレベルから原子レベルに至るまで、最先端の分析機器（FE-TEM,
固体NMR 等）を駆使し、構造解析します。特に電子材料や触媒などの無機材料については、結晶構造解析、ナノオーダーの局所組成分析、原子・分子の局所構造解析など、広範囲にわたって、総合的な材料評価が可能です。
また、機能性材料や薄膜材料などの最先端材料では、表面が関与する現象を解析することが必要です。SPMやESCA(XPS)などの表面分析機器によって、様々な表面情報の収集が可能です。
弊社の得意とする形態観察・構造解析技術、表面分析技術を是非ご活用下さい。 |
| 主 要 装 置 |
形態観察・構造解析
「ミリからナノまで」
- レーザー顕微鏡
- 電界放射型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
- 電界放射型透過電子顕微鏡(FE-TEM)
- 固体核磁気共鳴装置(固体NMR)
- Ｘ線回折装置（XRD）
- レーザーラマン分光装置
- 電子スピン共鳴装置（ESR)
表面分析
「様々な表面情報」
- X線マイクロアナライザー（EPMA）
- 走査プローブ顕微鏡（SPM）
- Ｘ線光電子分光装置（ESCA/XPS）
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| 技 術 資 料 |
弊社保有の技術や分析事例を紹介致します。
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