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ポリマー材料の表面分析
～ ESCA(XPS)を中心に～

内容	表面分析の重要性 X線光電子分光法(ESCA, XPS)の有用性事例紹介 ① 離型剤の成分評価 ② エンジニアリングプラスチックの劣化解析 ③ フィルム性能と表面官能基量の関係解析
講師	(株)東ソー分析センター　東京事業部　解析G　中西健太
日時	2025年11月18日(火)　16:00～17:00（開場 15:50頃）

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概要

　材料表面は機能発現因子や劣化の起点となることが多く、その構造解析は非常に重要です。ポリマー材料の表面分析は赤外分光法(IR)が一般的ですが、X線光電子分光法(ESCA：Electron Spectroscopy for Chemical Analysis、またはXPS：X-ray Photoelectron Spectroscopy)ではより表面の分析が可能となります。
　ESCA(XPS)によってポリマー材料表面(数nm深さ)の組成や化学状態を分析し、他手法の分析結果とあわせた劣化解析や表面官能基量と性能との関係解析などを紹介します。

参加費　無料

オンデマンド関連セミナー

これまでに実施したオンラインセミナーを期間限定でオンデマンド配信いたします。

視聴期限：11月18日（火）

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申込期限：11月17日(月)

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備考

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オンラインセミナー窓口　Mail: tarc_seminar@tosoh-arc.co.jp

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ビデオ会議ツール『Zoom』を使用いたします。ブラウザからの視聴も可能ですが、いくつかの機能が制限されますので、アプリをインストールしていただくことをお勧めいたします。
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本セミナーの録音・録画・撮影および資料の二次利用は固く禁じております。
弊社と同業の分析会社の方の参加はご遠慮いただいています。

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