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技術資料
No.T2122 | 2021.11.26 (2023.03.23改訂)

特殊溶媒系GPCによるポリマーの分子量分布測定

~ 芳香族ポリケトンの光劣化による分子量変化 ~

概要

高分子材料は、長時間の光照射を受けると、分子切断や架橋形成などの劣化にて分子量が変化します。
ポリエーテルエーテルケトン (PEEK) について、耐候性試験を行い、GPCによる分子量測定を行いました。

試験条件

1. 耐候性試験

装置 : アイスーパーUVテスター SUV-W161(岩崎電機製)
・運転モード 照射のみ
・照射強度  100mW/cm2
・照射時間  200時間
・シャワー、水冷ボード OFF
・照射温度 63℃
・照射湿度 50%

2. 分子量測定

装置 : HLC-8320 (東ソー製)
・カラム : TSKgel SuperHM-H × 2本(東ソー製)
・溶離液 : PFP/クロロホルム = 1/2(wt/wt)

測定結果

光劣化前後のGPC分子量分布曲線を図1に示します。試料に不溶解分が確認されたため、ピーク面積を補正しています。光照射を受けた表面ほど劣化が進行し、分子量は低くなっています。

【図1】光劣化前後のGPC分子量分布曲線
適用分野
GPC、SEC、高分子、分子量測定、光劣化
キーワード
芳香族ポリケトン、PEEK、難溶解性、スーパーエンジニアリングプラスチック、エンプラ

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