概要
MS/MS法は特定の質量成分のみを選択的にフラグメント化することが出来るため、微量成分の定性や構造解析に必須の手法です。弊社では、前段に四重極（Q）型MSを、後段に飛行時間(TOF)型MSを備えたハイブリット型質量分析計（Q-TOF/MS）によるMS/MS測定が可能です。
この装置はフラグメントイオンの検出を高分解能なTOF/MSで行うため、精密質量や同位体パターンから分析対象の部分構造を同定し、分子構造全体を解析することが出来ます。主成分の同定や各種材料中の添加剤及び不純物の分析にご活用下さい。
主なスペック
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イオン源 |
ESI、APCI、APPI、DART |
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質量分解能 |
20,000（FWHM） |
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検出感度 |
サブng～ |
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質量精度 |
＜2ppm |
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測定法 |
直接導入法 UPLC*-MS/MS、GPC-MS/MS |
*：超高速液体クロマトグラフ
測定例
・高分子材料中の添加剤分析
＜Irganox1035の分子構造＞
観測された4種のフラグメントを全て同定し、検出成分（親イオン）をIrganox1035に帰属
適用分野
有機微量分析、分子構造解析
キーワード
プラスチック・ゴム、添加剤、酸化防止剤
