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電子顕微鏡画像集

走査電子顕微鏡(SEM)及び透過電子顕微鏡(TEM)

原理
走査電子顕微鏡(SEM)は、集束させた電子線で試料表面を走査することによって、試料表面の形態を観察することができます。 透過電子顕微鏡(TEM)は、薄い試料に電子線を透過することによって、試料内部の構造を観察することができます。 電界放出形(FE)電子銃を用いているFE-SEM及びFE-TEMは従来の装置より高分解能な構造情報を得ることができます。

当社のSEM及びTEMで得られた画像例を以下にご紹介します。

染色TEMによる高分子材料のモルフォロジー解析

FE-SEMによる加熱時のその場観察(in-situ)

  • 電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)

    電界放出形走査電子顕微鏡
    (FE-SEM)

  • 電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM)

    電界放出形透過電子顕微鏡
    (FE-TEM)