ホームchevron_right技術資料一覧chevron_right分光分析chevron_rightFT-IRchevron_right多層材料の積層構成分析/製品中の異物分析
技術資料
No.T0808 | 2013.10.01

多層材料の積層構成分析/製品中の異物分析

製品解析やクレーム/トラブルの解決にお役立てください。

概要1 多層材料の積層構造分析

 包装材料に様々な機能が要求される中にあって、多層化技術の重要性がますます増加しています。弊社では多層材料の積層構成分析を通じてフィルムやポリマー容器の開発業務に携わる皆様を強力にバックアップいたします。

 成形品の積層構成分析は、下記の2項目から成っています。
  ① 断面観察による積層構造確認
  ② 分光分析等による材質分析

分析事例1

 下図に、包装袋(5層品)の分析例を示します。
 積層構成分析により、各層の厚み測定はもちろんのこと、使用材料を特定することも可能です。フィルムに限らず、ブロー製品やラミネート材等のあらゆるポリマー製品の積層構成解析は弊社にご用命下さい。

 ・積層フィルム層構成厚み測定 :包埋、面だし、写真1枚
 ・積層フィルム各層レジン定性 :単層品~5層品以上 DSC,FTIR、ATR顕微FTIR等

概要2 製品中の異物分析

 異物混入によるトラブルの解消には、原因物質を特定し、いち早く対策を講じる必要があります。弊社では異物分析の豊富な経験と迅速な対応で、トラブルシューティングのお手伝いを致します。

 異物分析は、下記2項目で構成されています。
  ①製品からの異物のサンプリング
  ②各種微量成分分析法による異物物質の特定

分析事例2

 下図は、PC製品に発生した異物(20μmΦ)の分析例です。
最適なサンプリング手法とFT-IR分析の併用により、原因物質はPMMAであることが特定されています。
 また弊社では、異物専門の分析体制を整え、お客様の早期回答へのご要望にお応えいたしております。

[主要装置]

  • 顕微赤外分光光度計(顕微FT-IR)
  • 示差走査熱量計(DSC)
  • 光学顕微鏡
  • 位相差顕微鏡
  • 走査型電子顕微鏡(SEM)
適用分野
プラスチックス・ゴム、フラットパネルディスプレイ、食品包装材
キーワード
プラスチック、PP、LDPE、PET、フィルム、積層材料、ラミネート、層構造、層構成、異物

CONTACTぜひ、お問い合わせください

弊社の分析技術について、納期やコストについてご検討の方は、
お問い合わせフォームより問い合わせください。