技術資料 「赤外分光装置(FT-IR)によるIn-situ分析」を掲載しました 装置紹介 「等圧式ガス・水蒸気透過試験装置（等圧式GC法）」を掲載しました 装置紹介 「差圧式ガス・水蒸気透過試験装置（差圧式GC法）」を改訂しました 装置紹介 「高圧マイクロ波分解装置～ ICP分析の前処理 ～」を掲載しました 技術資料 「自動標準液添加装置を活用した高純度硫酸中の微量金属分析」を掲載しました 技術資料 「特性を左右する見えない構造 － 顆粒内部の成分分布を可視化」を掲載しました
mail_outlineお問い合わせ

新着情報

ホームchevron_right新着情報

2013.09.01

装置紹介

高分子分別装置

2013.09.01

その他

第7回高分子セミナー開催のお知らせ(2013.12.11)

2013.09.01

装置紹介

クリープ試験機

2013.09.01

装置紹介

曲げ試験機

2013.09.01

装置紹介

ガスクロマトグラフ（GC）

2013.09.01

装置紹介

ヘッドスペースガスクロマトグラフ/質量分析装置（HS-GC/MS）

2013.09.01

装置紹介

紫外・可視分光光度計（UV-VIS）

2013.09.01

装置紹介

液体クロマトグラフ/タンデム型質量分析装置（LC/MS/MS）

2013.09.01

装置紹介

示差走査型熱量測定装置（DSC）

2013.09.01

装置紹介

熱分析装置（TG-DTA）

2013.09.01

装置紹介

元素分析装置（炭素・水素・窒素・酸素・硫黄・ハロゲン）

2013.09.01

装置紹介

フーリエ変換型赤外分光光度計（FT-IR）

2013.09.01

装置紹介

顕微FT-IR装置（イメージング）

2013.09.01

装置紹介

走査電子顕微鏡(SEM)

2013.09.01

装置紹介

透過電子顕微鏡(TEM)

2013.09.01

装置紹介

3次元型透過電子顕微鏡(3D-TEM)

2013.09.01

装置紹介

クロスセクションポリッシャ(CP)

2013.09.01

装置紹介

イオン研磨装置(PIPS)

2013.09.01

装置紹介

引張試験機

2013.09.01

装置紹介

衝撃試験機

CONTACTぜひ、お問い合わせください

弊社の分析技術について、納期やコストについてご検討の方は、
お問い合わせフォームより問い合わせください。
お問い合わせご依頼の流れについて