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X線分析

材料を構成する原子・分子の結晶構造を解析します

全11件

X線回折測定による微小異物の解析 ポリエチレン樹脂中の添加剤分析 In-situ XAFS測定による鉄さびの構造変化の観察 微小角入射X線回折法によるポリマー表面の結晶性評価 半導体材料の結晶構造解析（逆格子マップ） ゼオライトの加熱脱水解析 Liイオン電池材料のXRDによる解析(最大エントロピー法) 塩化ビニル樹脂中の添加剤分析 ゼオライトの結晶構造解析（リートベルト法） 高温下での結晶相変化の解析(XRD) 未知物質の同定（XRD）

全2件

薄膜用X線回折装置 蛍光X線分析装置（XRF）

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