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ゴム表面の微小異物分析（イメージング顕微FT-IR）
GPC-MALS法によるヒアルロン酸の絶対分子量測定
脆弱試料の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ））
GPC(SEC)-MALS法による各種高分子の絶対分子量と回転半径の測定
高分子の長鎖分岐の研究動向について
湿潤状態での細孔分布測定方法：Inverse GPCに関する総説
フィルムの防湿性 厚みの影響
固相抽出を利用した微量金属成分の分析（ICP-MS）
難接着材料のポアソン比測定 非接触法による評価（ 1 ）
高温下での結晶相変化の解析(XRD)
未知物質の同定（XRD）
SEM-EDX による 異物の組成解析 Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray Spectrometry
シリカガラスの欠陥構造解析（ESR－電子スピン共鳴）
GPC（SEC）-FTIR法によるポリフェニレンエーテル(PPE)／ ポリスチレン(PS)ブレンド試料の分子量測定
有機膜の化学状態分析（ESCA（XPS）－GCIB）
GPC（SEC）-FTIR法による PET共重合体(PETG)／ポリカーボネート(PC)ブレンド試料の分子量測定
有機積層膜の深さ方向分析 （ESCA（XPS）－GCIB）
薄膜中の微量金属分析 （ICP-AES、GF-AAS、ICP-MS）
シリカ粉末の表面SiOH分析（拡散反射FT-IR）
フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM／EDS)