技術資料 「LC-MSによるインタクト抗体の糖鎖組成解析(2)」を掲載しました 技術資料 「NMRによるポリアミド混合物の組成解析」を掲載しました 装置紹介 「誘導結合プラズマ発光分析装置（ICP-AES）」を改訂しました 技術資料 「赤外分光装置(FT-IR)によるIn-situ分析」を掲載しました 装置紹介 「等圧式ガス・水蒸気透過試験装置（等圧式GC法）」を掲載しました 装置紹介 「差圧式ガス・水蒸気透過試験装置（差圧式GC法）」を改訂しました
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X線分析

XRD

XRD（X線回折法）は、粉末・固体・液体試料に適用可能な非破壊分析手法です。

結晶相の同定や原子配列の解析が可能であり、結晶質シリカの微量分析、アモルファス材料の局所構造解析、電池材料の充放電に伴う構造変化の評価などに活用されています。

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気密試料ホルダーを使用した大気非暴露XRD測定 非晶質シリカの構造解析 Liイオン電池材料のXRDによる解析 結晶質シリカの微量分析（XRD） 高温XRDによるセラミックスの熱膨張評価 X線回折測定による微小異物の解析 微小角入射X線回折法によるポリマー表面の結晶性評価 半導体材料の結晶構造解析（逆格子マップ） ゼオライトの加熱脱水解析 Liイオン電池材料のXRDによる解析(最大エントロピー法) ゼオライトの結晶構造解析(リートベルト法) 高温下での結晶相変化の解析(XRD) 未知物質の同定（XRD）

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高輝度X線回折装置 薄膜用X線回折装置

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