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－異物分析－ 無機材料に内包された異物の分析
GCIB-ESCAによるステンレス材料解析
異物分析 その1 ～ 異物分析フロー ～
異なるX線源によるESCA分析 ～リチウムイオン電池材料と半導体材料を例に～
-LIBの分析- ESCAによるMn価数解析
-LIBの分析- 負極材の大気非暴露ESCA分析
角度分解法による深さ方向分析（ESCA、XPS）
-LIBの分析- 組成分析、定量分析(ICP)
-LIBの分析- ESCAによる正極材の組成、状態分析
-LIB の分析- 断面SEM観察による正極材料構造解析
GCIB-ESCAによる膜基板界面の分析
難溶解性薄膜中の微量金属分析
塩化ビニル樹脂中の添加剤分析
イオンスパッタによる深さ方向分析 （ESCA、XPS）
固相抽出を利用した微量金属成分の分析（ICP-MS）
有機積層膜の深さ方向分析 （ESCA（XPS）－GCIB）
薄膜中の微量金属分析 （ICP-AES、GF-AAS、ICP-MS）
フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM／EDS)
石英ガラス中の金属不純物分析（ICP）
nmオーダーの形態観察と組成分析（FE-TEM）