全75件
分析試料包装時の表面汚染管理(ESCA/XPS)
金属配管の異物観察 FE-SEM/EDSによる断面の元素マッピング
X線回折測定による微小異物の解析
ゼオライトの結晶構造解析1(電子線回折法)
金属組織の冷却速度依存性(加熱SEM)
加熱SEMを用いた鉛フリーはんだのAg凝集挙動観察
-異物分析- 無機材料に内包された異物の分析
GCIB-ESCAによるステンレス材料解析
イメージングFT-IRによる配向解析
In-situ XAFS測定による鉄さびの構造変化の観察
乾燥剤の細孔分布測定
はんだ(共晶組織)のin-situ加熱SEM観察
高磁場NMRによる無機材料(ガラス)の配位解析
バイオミネラルのin-situ加熱SEM観察
FE-TEMによるジルコニアの添加元素分布解析
赤さびの加熱による構造変化(in-situ 加熱FE-SEM)
異なるX線源によるESCA分析 ~リチウムイオン電池材料と半導体材料を例に~
-LIBの分析- ESCAによるMn価数解析
樹脂/金属接合技術によるPPS/アルミ板界面のTEM観察
メソポーラスシリカ粉末のFIB加工と断面TEM観察
全23件
反応熱量計
電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)
トリプル四重極型ICP-MS
加熱赤外分光測定(加熱IR測定)
紫外・可視・近赤外分光光度計 V-770 (UV-VIS-NIR)
酸素・窒素分析装置
炭素・硫黄分析装置
超高感度ガス・水蒸気透過試験装置
ダイヤモンドワイヤソー
顕微ラマン分光分析装置
熱重量-質量分析装置
集束イオンビーム
レーザ顕微鏡(LM)
デジタルマイクロスコープ
電界放出形走査電子顕微鏡
X線光電子分光分析装置
熱拡散率測定装置(レーザーフラッシュ法)
蛍光X線分析装置(XRF)
電子スピン共鳴分析装置(ESR)
電界放出型透過電子顕微鏡(FE‐TEM)