装置紹介 「等圧式ガス・水蒸気透過試験装置（等圧式GC法）」を掲載しました 装置紹介 「差圧式ガス・水蒸気透過試験装置（差圧式GC法）」を改訂しました 装置紹介 「高圧マイクロ波分解装置～ ICP分析の前処理 ～」を掲載しました 技術資料 「自動標準液添加装置を活用した高純度硫酸中の微量金属分析」を掲載しました 技術資料 「特性を左右する見えない構造 － 顆粒内部の成分分布を可視化」を掲載しました
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無機材料

結晶構造解析や形態観察、材料中の微量成分の解析を行います

全97件

金属材料中の炭素・硫黄の微量分析 大気非暴露分析 – 表面・局所分析 – 分析試料包装時の表面汚染管理（ESCA/XPS） 金属配管の異物観察 FE-SEM/EDSによる断面の元素マッピング X線回折測定による微小異物の解析 ゼオライトの結晶構造解析１（電子線回折法） 金属組織の冷却速度依存性（加熱SEM） 加熱SEMを用いた鉛フリーはんだのAg凝集挙動観察 －異物分析－ 無機材料に内包された異物の分析 GCIB-ESCAによるステンレス材料解析 イメージングFT-IRによる配向解析 In-situ XAFS測定による鉄さびの構造変化の観察 乾燥剤の細孔分布測定 はんだ（共晶組織）のin-situ加熱SEM観察 高磁場NMRによる無機材料（ガラス）の配位解析 バイオミネラルのin-situ加熱SEM観察 FE-TEMによるジルコニアの添加元素分布解析 赤さびの加熱による構造変化（in-situ 加熱FE-SEM） 異なるX線源によるESCA分析 ～リチウムイオン電池材料と半導体材料を例に～ -LIBの分析-　ESCAによるMn価数解析

全24件

高圧マイクロ波分解装置 高輝度X線回折装置 電界放出型透過電子顕微鏡（FE-TEM） 反応熱量計 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA） トリプル四重極型ICP-MS 加熱赤外分光測定（加熱IR測定） 紫外・可視・近赤外分光光度計 V-770 (UV-VIS-NIR) 酸素・窒素分析装置 炭素・硫黄分析装置 超高感度ガス・水蒸気透過試験装置 ダイヤモンドワイヤソー 顕微ラマン分光分析装置 熱重量－質量分析装置 集束イオンビーム デジタルマイクロスコープ 電界放出形走査電子顕微鏡 X線光電子分光分析装置 熱拡散率測定装置（レーザーフラッシュ法） 蛍光X線分析装置（XRF）

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