技術資料 「LC-MSによるインタクト抗体の糖鎖組成解析(2)」を掲載しました 技術資料 「NMRによるポリアミド混合物の組成解析」を掲載しました 装置紹介 「誘導結合プラズマ発光分析装置（ICP-AES）」を改訂しました 技術資料 「赤外分光装置(FT-IR)によるIn-situ分析」を掲載しました 装置紹介 「等圧式ガス・水蒸気透過試験装置（等圧式GC法）」を掲載しました 装置紹介 「差圧式ガス・水蒸気透過試験装置（差圧式GC法）」を改訂しました
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表面分析

表面分析は、材料表面の元素組成、化学状態、微細構造および成分分布を評価する分析手法です。

接着不良、濡れ性・撥液性の変化、変色や腐食、表面処理の効果確認、薄膜や劣化層の原因調査などに活用され、製品性能に影響する表面状態の解明に役立ちます。

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イオンスパッタによる深さ方向分析 （ESCA、XPS） GCIB-ESCAによる無機材料表面クリーニング 表面官能基の識別　修飾カンチレバー法 ゴム表面の微小異物分析（イメージング顕微FT-IR） 有機膜の化学状態分析（ESCA（XPS）－GCIB） 有機積層膜の深さ方向分析（ESCA (XPS)－GCIB） シリカ粉末の表面SiOH分析（拡散反射FT-IR）

全7件

溶媒蒸発型GPCを用いたGPCハイフネーテッド技術 AFM-IR 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA） 走査型プローブ顕微鏡（SPM） 電界放出形走査電子顕微鏡 X線光電子分光分析装置 GPC(SEC)-FTIR装置（溶媒蒸発型）

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