バイオミネラルのin-situ加熱SEM観察
赤さびの加熱による構造変化（in-situ加熱FE-SEM）
異なるX線源によるESCA分析 ～リチウムイオン電池材料と半導体材料を例に～
-LIBの分析- ESCAによるMn価数解析
-LIBの分析- 負極材の大気非暴露ESCA分析
FE-SEMによる加熱時のその場観察(in-situ)
角度分解法による深さ方向分析（ESCA、XPS）
-LIBの分析- ESCAによる正極材の組成、状態分析
FE-SEMによるサンプル加熱時の形態観察
-LIB の分析- 断面SEM観察による正極材料構造解析
コンダクティブAFMによる有機半導体の電気的評価 －有機半導体の電気的欠陥分布の把握－
GCIB-ESCAによる膜基板界面の分析
有機・無機複合材料の断面作製（クライオ断面イオンミリング）
価電子帯スペクトルを利用したGCIB-ESCAによる深さ方向分析
価電子帯スペクトルによる材料分析（ESCA）
FE-SEMの各種検出器による観察結果 Field Emission-Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
高展延性金属（はんだ、銅配線）の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ））
イオンスパッタによる深さ方向分析 （ESCA、XPS）
GCIB-ESCAによる無機材料表面クリーニング
表面官能基の識別 修飾カンチレバー法