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全28件
FE-SEMの各種検出器による観察結果 Field Emission-Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
高展延性金属(はんだ、銅配線)の断面作製法 (断面イオンミリング(クロスセクションポリッシャ:CP))
脆弱試料の断面作製法 (断面イオンミリング(クロスセクションポリッシャ:CP))
シリカガラスの欠陥構造解析(ESR-電子スピン共鳴)
薄膜中の微量金属分析 (ICP-AES、GF-AAS、ICP-MS)
フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM/EDS)
nmオーダーの形態観察と組成分析(FE-TEM)
固体NMRによる構造解析技術
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全5件
新規NMR導入紹介_液体/固体兼用高磁場NMR装置を導入しました
電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)
トリプル四重極型ICP-MS
電界放出形走査電子顕微鏡
X線光電子分光分析装置
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