装置紹介 「等圧式ガス・水蒸気透過試験装置（等圧式GC法）」を掲載しました 装置紹介 「差圧式ガス・水蒸気透過試験装置（差圧式GC法）」を改訂しました 装置紹介 「高圧マイクロ波分解装置～ ICP分析の前処理 ～」を掲載しました 技術資料 「自動標準液添加装置を活用した高純度硫酸中の微量金属分析」を掲載しました 技術資料 「特性を左右する見えない構造 － 顆粒内部の成分分布を可視化」を掲載しました
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無機材料

結晶構造解析や形態観察、材料中の微量成分の解析を行います

全97件

樹脂/金属接合技術によるPPS/アルミ板界面のTEM観察 メソポーラスシリカ粉末のFIB加工と断面TEM観察 -LIBの分析-　負極材の大気非暴露ESCA分析 角度分解法による深さ方向分析（ESCA、XPS） TEM基礎講座 ①原理 触媒中の陰イオン分析 半導体材料の結晶構造解析（逆格子マップ） -LIBの分析- ESCAによる正極材の組成、状態分析 FE-SEMによるサンプル加熱時の形態観察 -LIB の分析- 断面SEM観察による正極材料構造解析 -LIBの分析- TEMによる正極材料の結晶構造解析 ゼオライトのリング構造解析（ラマン分光） FIB-STEM/EDSによる元素マッピング 清浄度試験 ～金属部品の表面に残存する加工油分の定量～ 有機・無機複合材料の断面作製（クライオ断面イオンミリング） ゼオライトの加熱脱水解析 FE-SEMの各種検出器による観察結果 Field Emission-Scanning Electron Microscope (FE-SEM) ゼオライト ‐ 固体29Si NMRによる構造解析 高展延性金属（はんだ、銅配線）の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ）） イオンスパッタによる深さ方向分析 （ESCA、XPS）

全24件

高圧マイクロ波分解装置 高輝度X線回折装置 電界放出型透過電子顕微鏡（FE-TEM） 反応熱量計 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA） トリプル四重極型ICP-MS 加熱赤外分光測定（加熱IR測定） 紫外・可視・近赤外分光光度計 V-770 (UV-VIS-NIR) 酸素・窒素分析装置 炭素・硫黄分析装置 超高感度ガス・水蒸気透過試験装置 ダイヤモンドワイヤソー 顕微ラマン分光分析装置 熱重量－質量分析装置 集束イオンビーム デジタルマイクロスコープ 電界放出形走査電子顕微鏡 X線光電子分光分析装置 熱拡散率測定装置（レーザーフラッシュ法） 蛍光X線分析装置（XRF）

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