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表面分析

表面分析は、材料表面の元素組成、化学状態、微細構造および成分分布を評価する分析手法です。

接着不良、濡れ性・撥液性の変化、変色や腐食、表面処理の効果確認、薄膜や劣化層の原因調査などに活用され、製品性能に影響する表面状態の解明に役立ちます。

難溶解性樹脂の構造解析 ～ 紫外線照射によるPEEKの表面劣化解析 ～ 潤滑膜の分析手法 ～潤滑油により形成される膜成分の表面粗さ解析～ 潤滑膜の分析手法 ～潤滑油により形成される膜成分の組成及び化学種の解析～ 潤滑膜の分析手法 潤滑膜の分析手法 ～潤滑油により形成される膜成分の元素分布解析（摩擦面内）～ イメージングFT-IRによる配向解析 2 樹脂中のフィラー分散性の評価 大気非暴露分析 – 表面・局所分析 – 分析試料包装時の表面汚染管理（ESCA/XPS） マイクロプラスチックの分析（3） ～FT-IRとGPCを用いたポリスチレンの分析～ 金属配管の異物観察 FE-SEM/EDSによる断面の元素マッピング ESCAによる高分子膜の深さ方向分析 気相化学修飾ESCAを用いたポリマー表面官能基の解析 金属組織の冷却速度依存性（加熱SEM） マイクロプラスチックの分析（2） ～FT-IRとGPCを用いたポリエチレンの分析～ 加熱SEMを用いた鉛フリーはんだのAg凝集挙動観察 －異物分析－ 無機材料に内包された異物の分析 GCIB-ESCAによるステンレス材料解析 はんだ（共晶組織）のin-situ加熱SEM観察 セルロースナノファイバー複合化ポリマーの分散状態観察(AFM、TEM)
溶媒蒸発型GPCを用いたGPCハイフネーテッド技術 AFM-IR 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA） 走査型プローブ顕微鏡（SPM） 集束イオンビーム 電界放出形走査電子顕微鏡 X線光電子分光分析装置 GPC(SEC)-FTIR装置（溶媒蒸発型）

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