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無機材料

結晶構造解析や形態観察、材料中の微量成分の解析を行います

全97件

プローブ分子吸着FT-IR法によるゼオライトの酸点解析 ゼオライト水酸基の固体NMR解析 ゼオライトの結晶構造解析(リートベルト法) GCIB-ESCAによる無機材料表面クリーニング 薄膜、柔軟材料の線膨張率測定　非接触法 脆弱試料の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ）） 固相抽出を利用した微量金属成分の分析（ICP-MS） 高温下での結晶相変化の解析(XRD) 未知物質の同定（XRD） SEM-EDX による 異物の組成解析 Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray Spectrometry シリカガラスの欠陥構造解析（ESR－電子スピン共鳴） 薄膜中の微量金属分析 （ICP-AES、GF-AAS、ICP-MS） シリカ粉末の表面SiOH分析（拡散反射FT-IR） フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM／EDS) 石英ガラス中の金属不純物分析（ICP） nmオーダーの形態観察と組成分析(FE-TEM) 固体NMRによる構造解析技術

全24件

高圧マイクロ波分解装置 高輝度X線回折装置 電界放出型透過電子顕微鏡（FE-TEM） 反応熱量計 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA） トリプル四重極型ICP-MS 加熱赤外分光測定（加熱IR測定） 紫外・可視・近赤外分光光度計 V-770 (UV-VIS-NIR) 酸素・窒素分析装置 炭素・硫黄分析装置 超高感度ガス・水蒸気透過試験装置 ダイヤモンドワイヤソー 顕微ラマン分光分析装置 熱重量－質量分析装置 集束イオンビーム デジタルマイクロスコープ 電界放出形走査電子顕微鏡 X線光電子分光分析装置 熱拡散率測定装置（レーザーフラッシュ法） 蛍光X線分析装置（XRF）

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